24小時咨詢熱線
薄膜厚度測量
薄膜輪廓與粗糙度測量
減震消磁系統(tǒng)
薄膜電性測量設備
薄膜缺陷檢測
薄膜力學性能測量
α500系列低頻消磁系統(tǒng)
EST-L主動式防震系統(tǒng)
EST-58-450桌上型主動式隔振臺
iMicroKLA 納米力學測試儀
iNanoKLA 納米壓痕儀
AT2Lumina薄膜缺陷檢測儀
AT1Lumina薄膜缺陷檢測儀
R54四探針電阻率測量儀
R50四探針電阻率測量儀
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀
F54-XY-200薄膜厚度測量儀
Auto SEHORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀