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膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是涂層測厚儀，擁有測量精度高，利用探頭接觸測量方式的優(yōu)點。光學(xué)膜厚測量儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。光學(xué)膜厚測量儀的使用注意事項：1.零點校準(zhǔn)在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過薄在使用...

XRF鍍層測厚儀主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。XRF鍍層測厚儀的測量工作原理：1、磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高（如：鐵等磁性材料）2、渦流測厚法：渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測厚法一樣，渦流測厚法也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程1...

XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗、成品復(fù)檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)...

光學(xué)膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。使用光學(xué)膜厚測量儀的注意事項有以下三點：一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學(xué)膜厚測量儀是一個非常精密的儀器，如果我們要想我們的測量數(shù)據(jù)能夠保持的話，就要保持試件表面的清潔，及時的處理掉試件表面的附...

XRF手持式合金分析儀是用于測量合金材料、金屬材料和其它材料的成分的，但你了解手持式合金分析儀還能用于測量鍍層厚度嗎？手持式合金光譜儀分析儀可測量金屬材料、塑膠、玻璃甚至是木料鍍層的厚度。優(yōu)勢一：超長的運行時間，彌補(bǔ)野外勘測設(shè)備弊端XRF手持式合金分析儀運行時間很長，設(shè)備耗電量較低，非常適合在實驗室以外的場地進(jìn)行檢測，有效避免在檢測過程中電量不足導(dǎo)致實驗中斷的現(xiàn)象發(fā)生，彌補(bǔ)了大多數(shù)合金分析儀續(xù)航時間短這一共性缺陷。XRF手持式合金分析儀重量僅有1.54公斤，這一特性也讓它在野...

XRF鍍層測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；谖④浿形囊暣跋到y(tǒng)的中文版應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI主機(jī)的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定多種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏...